课程名称:电子元器件常见失效模式及失效机理
电子元器件常见失效模式及失效机理 课程简介:
帮助学员了解电子元器件得常见失效模式及失效机理,制定纠正措施,为产品可靠性设计及可靠性预计提供基础
电子元器件常见失效模式及失效机理 内容介绍:
1、电子元器件引线断裂的常见失效模式 2、电阻器,电位器常见失效模式及机理分析 3、电容器常见失效模式及机理分析 4、继电器常见失效模式及机理分析 5、电连接器常见失效模式及机理分析 6、分立器件常见失效模式及机理分析 7、集成电路常见失效模式及机理分析 8、混合集成电路常见失效模式及机理分析
电子元器件常见失效模式及失效机理 讲师简介:
胡会能先生在中国运载火箭技术研究院一直从事电子元器件失效分析工作。负责完成多项重大失效分析任务,完成和指导完成的电子元器件失效分析案例共万余次,积累了丰富的实践经验。
电子元器件常见失效模式及失效机理 学员对象:
系统总质量师、产品质量师、设计师、工艺师、质量可靠性管理、失效分析工程师
电子元器件常见失效模式及失效机理 课程费用:
1800.0元/人(含培训费、参观费,不含住宿及往返交通费用)
提交单位:
备注:
★免费注册会员,轻松享受更多折扣!
也可提供企业内部培训(老师上门培训)
注:可提供胡会能等老师的企业内训
一、联系方式:
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二、单位银行汇款: ◇ 户 名: 北京神州华创教育科技有限公司
◇ 户 名: 北京神州华创教育科技有限公司
◇ 开户行: 工行北京分行黄楼支行
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